Pētiīuma mērķis ir izpētīt poraina silīcija dioksīda struktūru ar FT - IS - spektroskopiju. Šie
pētījumi tika veikti, izmantojot Furjē spektrometru – "Infralum FT - 801". Spektrometra darba spektra diapazons 550 cm–1 līdz 5500 cm-1.
Pēc spektra izskata var secināt par oksīda porainību. Ja oksīds nav parāk blīvs, to spektrā ir vērojama diezgan plaša absorbcijas josla. Pietiekami blīva un samērā perfekta termiski audzēta oksīda josla nav tik plaša.
Infrasarkanā spektroskopija atšķiras ar lielu daudzpusību, tas ļauj pētīt vielas visos tās agregātstāvokļos. Pie spektrālās metodes svarīgam priekšrocībam arī var piskaitīt, piemēram, augsto jutību (spēja reģistrēt pat dāžu molekulu spektrus) un tā nebojā paraugus.
Rezultāti paradīja, ka plēvēm spektrā ir raksturīgas saites Si–O, C–O un O–H, tas viss norāda uz to amorfo struktūru. Plēvēm arī bija aprēķināta Si–O saišu koncentrācija(sk. 7.1.1. tab.). Dati paradīja, ka paraugiem ir laba porainība.
…